论文数
1
总引用数
4
H-Index
1
关于
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研究焦点
Characterization (materials science)1 · 4 次引用
Computer science1 · 4 次引用
Electrical engineering1 · 4 次引用
Engineering1 · 4 次引用
Instrumentation (computer programming)1 · 4 次引用
Materials science1 · 4 次引用
Microwave1 · 4 次引用
Microwave imaging1 · 4 次引用
Nanotechnology1 · 4 次引用
Optoelectronics1 · 4 次引用
Scanning electron microscope1 · 4 次引用
Silicon1 · 4 次引用
主要成就
1
H 指数
1
论文
4
总引用数
4
篇均引用
🏆 最高被引论文
Robotic on-wafer probe station for microwave characterization in a scanning electron microscope
4 次引用 · 2015
📈 最高产年份: 2015 (1 论文)
🤝 主要合作者: 6
🏛 所属机构: Institut d'électronique de microélectronique et de nanotechnologie
代表论文
- 1
主要合作者
尚未生成