Juan M. Trujillo-Sevilla

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研究焦点

Image resolution1 · 3 次引用
Materials science1 · 3 次引用
Optics1 · 3 次引用
Optoelectronics1 · 3 次引用
Physics1 · 3 次引用
Surface finish1 · 3 次引用
Wafer1 · 3 次引用

主要成就

1
H 指数
1
论文
3
总引用数
3
篇均引用
🏆 最高被引论文
Roughness and nanotopography measurement of a Silicon Wafer using Wave Front Phase Imaging : High speed single image snapshot of entire wafer producing sub nm topography data
3 次引用 · 2020
📈 最高产年份: 2020 (1 论文)
🤝 主要合作者: 2

代表论文

  1. 1
    Roughness and nanotopography measurement of a Silicon Wafer using Wave Front Phase Imaging : High speed single image snapshot of entire wafer producing sub nm topography data
    3 次引用 · 2020

主要合作者

JMJosé Manuel Ramos Rodríguez1 篇合著论文JOJan O. Gaudestad1 篇合著论文

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内容已生成 · 16 天前