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基于点云配准的非破坏性高分辨率涂层厚度三维扫描测量

Simon Duenser, Ivo Aschwanden, Raamadaas Krishnadas, Majid Nabavi, Markus Bambach

Robotics and Computer-Integrated Manufacturing · 2026

摘要

该论文提出了一种利用点云配准技术实现非破坏性、高分辨率涂层厚度测量的方法。通过分析三维扫描数据,该方法能够精确计算涂层厚度,适用于工业检测和质量控制。

关键词

point cloud registrationcoating thickness measurement3D scanningnon-destructive testing

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